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比亞迪半導(dǎo)體“存儲器測試方法、存儲器測試裝置、存儲介質(zhì)和電子設(shè)備”專利公布

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UIS應(yīng)力下GaN HEMT在線測試方法征求意見

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山西聯(lián)通成功完成5G-A低空通信測試

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《異質(zhì)外延氮化鎵外延層厚度測試白光干涉法》CSA團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)第一次討論會召開

國家市場監(jiān)督管理總局重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室（車規(guī)芯片測試與評價(jià)）落戶國創(chuàng)中心

總投資5億！湖南一半導(dǎo)體封裝測試項(xiàng)目，開工

平湖實(shí)驗(yàn)室何光澤：面向SiC/GaN功率器件失效分析的測試技術(shù)與典型應(yīng)用| IFWS2024

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CASA立項(xiàng)“半導(dǎo)體材料紫外光電子能譜測試方法”等2項(xiàng)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

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國內(nèi)半導(dǎo)體測試龍頭企業(yè)北方研發(fā)中心項(xiàng)目在西青經(jīng)開區(qū)正式投入運(yùn)營

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浪潮華光參與制定的國家標(biāo)準(zhǔn)《III族氮化物半導(dǎo)體材料中位錯(cuò)成像的測試透射電子顯微鏡法》正式發(fā)布

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通富微電“半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的控制方法及半導(dǎo)體測試系統(tǒng)”專利公布

忱芯科技申請?zhí)蓟韫β拾雽?dǎo)體器件的驅(qū)動板和測試方法專利

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正式簽約！北京經(jīng)開區(qū)將建設(shè)集成電路測試驗(yàn)證共享技術(shù)平臺

御渡半導(dǎo)體完成數(shù)億元戰(zhàn)略融資，聚焦中高端測試設(shè)備賽道

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